CERN
Accelerating science
Sign in
Directory
CERN Document Server
Access articles, reports and multimedia content in HEP
Main menu
Искать
Внести
Помощь
Персонализовать
Ваши оповещения
Ваши книжные полки
Your comments
Ваши поисковые запросы
Главная страница
>
CERN R&D Projects
>
CERN Detector R&D Projects
>
RD53
> RD53 Conference Proceedings
RD53 Conference Proceedings
Искать 1 записей для:
любое поле
название
автор
абстракт
номер документа
год
Указания для поиска
::
Расширенный поиск
Последние добавления:
2016-11-09
21:46
Results of FE65-P2 Pixel Readout Test Chip for High Luminosity LHC Upgrades
/
Garcia-Sciveres, Mauricio
(Lawrence Berkeley National Lab. (US)) /RD53 Collaboration
A pixel readout test chip called FE65-P2 has been fabricated on 65 nm CMOS technology. FE65-P2 contains a matrix of 64 x 64 pixels on 50 micron by 50 micron pitch, designed to read out a bump bonded sensor. [...]
CERN-RD53-PROC-16-001.-
Geneva : CERN, 2016 - 8.
- Published in :
PoS
ICHEP2016 (2016) 272
Fulltext:
PDF
;
ICHEP submission:
PDF
;
In :
38th International Conference on High Energy Physics
, Chicago, IL, USA, 03 - 10 Aug 2016, pp.272
Подробная запись
-
Подобные записи