Enseignement technique : Séminaire de l'enseignement technique

Mardi 4 mai 2004
SEMINAIRE DE L'ENSEIGNEMENT TECHNIQUE
de 14:00 à 17:00 - Training Centre Auditorium - bât. 593
Le SPC - Statistical Process Control - dans une démarche de qualité totale
Hakim Bourahla, Maurice Arrius, Charbel Tannous - ABW Concept - F-74950 SCIONZIER, France

Ce nouveau séminaire de l'Enseignement Technique sera consacré à la présentation du SPC, le Statistical Process Control. Le SPC apporte une grande efficacité dans l'amélioration de la qualité des produits. Cette méthode, permettant d'assurer une qualité optimum à l'aide d'un outil statistique, est fondée sur deux concepts de base : le suivi et le pilotage des procédés industriels par cartes de contrôle, et l'étude des capabilités des systèmes de production.

- Origine et objectifs du SPC
- Concepts du SPC : les 5 « m » (machine, main d'œuvre, matière, méthodes et milieu) ; analyse de la dispersion ; causes communes et causes spéciales
- Capabilités : capabilité machine et capabilité procédé ; seuils et valeurs cibles des indicateurs de capabilité ; capabilité « moyen de contrôle »
- Pilotage d'un processus par une carte de contrôle
- Pilotage des procédés par cartes de contrôle ; méthode de pilotage
- Interprétation des cartes de contrôle ; différentes règles du SPC
- Gérer la traçabilité du pilotage
- Applications, exemples des logiciels Q-DAS®

Langue: Français
Séminaire libre, sans inscription
Organisateurs: Gilles Trachez / AT-MAS / 73783, Davide Vitè / HR-PMD / 75141

Pour plus d'information, veuillez SVP visiter les pages des Séminaires de l'Enseignement Technique à l'adresse http://www.cern.ch/TechnicalTraining/special/TTseminars.asp.