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last update: 04 May 2006, 00:00
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Dnphuong_1984
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1.
Defect generation by radioactive decay of light elements in n-type silicon
/
Bollmann, J
;
Thieme, M
;
Weber, J
/ISOLDE Collaboration
2006
- Published in :
Physica B
376-377 (2006) 97-100
In :
23rd International Conference on Defects in Semiconductors
, Hyogo, Japan, 24 - 29 Jul 2005, pp.97-100
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